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TKD（Thin Film Kerr Effect Differential)样品台是一种用于SEM（扫描电子显微镜）的新工具，主要用于半导体材料的微观结构和磁性特性的分析。它通过利用Kerr效应来获得样品的磁性信息，从而为研究者提供了一种全新的视角去理解半导体材料的行为。

这使得TKD样品台成为半导体材料分析的新利器，尤其适用于研究具有复杂微观结构和磁性的新型半导体材料。例如，在研究二维材料、拓扑绝缘体等新型半导体材料时，TKD样品台可以提供关于这些材料内部微观结构和磁性特性的重要信息，有助于深入理解其物理性质和潜在应用。此外，TKD样品台还可以与其他技术如EBSD（电子背散射衍射）结合使用，以获取更全面的材料特性信息。